日本三協 SANKYO IMS5400-TH 白光干涉仪

2025-06-20 16:19:24 admin

日本三協 SANKYO IMS5400-TH 白光干涉仪

白光干涉仪 <br>IMS5400-TH [用于精确厚度测量]

产品特点

对物体进行纳米级精度的厚度测量，通过距离波动和振动进行测量也可以稳定地测量防反射
涂层玻璃通过 Web 界面轻松
配置

规范

范围
0.035~1.4 毫米 * 但是，目标物必须在距离传感器 45 mm±3.5 mm 或 70 mm ± 2.1 mm 的范围内。

输出
模拟：4-20 mA，0-10 V数字
：RS422/EtherCAT/以太网

分辨率
<1纳米

精度
<± 100nm 或 <±200nm

反应
100 赫兹~6 赫兹

温度
5~70 °C

测量体
薄层、玻璃、薄膜等