日本 KETT 凯特 TS-100 晶粒形状测试仪
日本 KETT 凯特 TS-100 晶粒形状测试仪产品概述比通用测厚仪更快地测量核粒尺寸测量装置/砧座采用陶瓷规格，耐磨、防锈带有内核导轨，可将放置的内核引导至测量设备的中心主要技术参数缩放分辨率0.01毫米测量范围0~10.0毫米作环境0~40°C30~70%RH（无冷凝）大小103（宽）×123（深）×36（高）毫米质量0.37千克
日本 KETT 凯特 TS-100 晶粒形状测试仪
产品概述
比通用测厚仪更快地测量核粒尺寸
测量装置/砧座采用陶瓷规格，耐磨、防锈
带有内核导轨，可将放置的内核引导至测量设备的中心
主要技术参数
缩放分辨率 0.01毫米 测量范围 0~10.0毫米 作环境 0~40°C
30~70%RH（无冷凝）大小 103（宽）×123（深）×36（高）毫米 质量 0.37千克