日本 得乐 TECLOCK SM-124LW 测厚仪
日本 得乐 TECLOCK SM-124LW 测厚仪用除了金属工件外，玻璃、橡胶、塑料、纸张等的厚度和直径也以实际尺寸来测量。谨慎单独票价产品规格规格和标准测量元件 （mm）：φ3.2 球形砧 （mm）：φ3.2 球面测量范围 （mm）：20最小显示 （mm）：0.01压痕深度 （mm）：120材料-质量和质量单位270 克
日本 得乐 TECLOCK SM-124LW 测厚仪
用
除了金属工件外，玻璃、橡胶、塑料、纸张等的厚度和直径也以实际尺寸来测量。
单独票价 测量元件 （mm）：φ3.2 球形 - 270 克谨慎
产品规格
规格和标准
砧 （mm）：φ3.2 球面
测量范围 （mm）：20
最小显示 （mm）：0.01
压痕深度 （mm）：120材料 质量和质量单位