日本 得乐 TECLOCK SM-1201LW 测厚仪
日本 得乐 TECLOCK SM-1201LW 测厚仪长处测量元件和砧座均由硬质合金制成。用除了金属工件外,玻璃、橡胶、塑料、纸张等的厚度和直径也以实际尺寸来测量。谨慎单独票价产品规格规格和标准测量元件 (mm):φ3 球形砧座 (mm):φ3 球面测量范围 (mm):10最小显示 (mm):0.001材料-质量和质量单位440 克
日本 得乐 TECLOCK SM-1201LW 测厚仪长处测量元件和砧座均由硬质合金制成。用除了金属工件外,玻璃、橡胶、塑料、纸张等的厚度和直径也以实际尺寸来测量。谨慎单独票价产品规格规格和标准测量元件 (mm):φ3 球形砧座 (mm):φ3 球面测量范围 (mm):10最小显示 (mm):0.001材料-质量和质量单位440 克
日本 得乐 TECLOCK SM-1201LW 测厚仪

测量元件和砧座均由硬质合金制成。
除了金属工件外,玻璃、橡胶、塑料、纸张等的厚度和直径也以实际尺寸来测量。 单独票价 测量元件 (mm):φ3 球形 - 440 克用
谨慎
产品规格
规格和标准
砧座 (mm):φ3 球面
测量范围 (mm):10
最小显示 (mm):0.001材料 质量和质量单位