日本 JFE 川铁 TI-70K TI-70L 超声波测厚仪

日本 JFE 川铁 TI-70K TI-70L 超声波测厚仪

• 共同特点

• 高精度显示：两者都以 0.01 毫米的增量显示厚度，能为用户提供较为精确的测量结果，有效支持生产产品的质量控制和精度控制。

• 便携性好：作为便携式仪器，便于携带，可在不同的工作场所和环境中使用，满足现场测量的需求。

• 广泛的应用领域：适用于环保、电子 / 电池、汽车及零部件、电气等多个领域，可对多种材料进行厚度测量。

• 基本测量原理：利用超声脉冲发射原理工作，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。